EMC測(cè)試始于連接器電纜，EMC測(cè)試是測(cè)量電子產(chǎn)品EMC各種標(biāo)準(zhǔn)不僅規(guī)定了各種電子產(chǎn)品的測(cè)試等級(jí)，還規(guī)定了測(cè)試方法和手段。EMC設(shè)計(jì)及EMC問(wèn)題分析必須以相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)EMC基于測(cè)試。表1和表2是無(wú)線基站產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中的無(wú)線基站設(shè)備EMC測(cè)試項(xiàng)目要求表，其中表1為騷擾測(cè)試項(xiàng)目表，表2為抗擾測(cè)試項(xiàng)目表。

從上表可以看出，EMC測(cè)試的直接對(duì)象是電纜及其電纜直接連接的端口。對(duì)于騷擾測(cè)試，電子產(chǎn)品的騷擾是從電纜或電纜中傳導(dǎo)出來(lái)的。即使是輻射測(cè)試，產(chǎn)品的電纜或互聯(lián)網(wǎng)上也經(jīng)常出現(xiàn)大部分問(wèn)題。對(duì)于抗干擾測(cè)試，干擾主要從電纜中注入，即使是ESD測(cè)試和輻射抗擾性測(cè)試的主要問(wèn)題通常是電纜成為接收天線，接收輻射干擾，并通過(guò)電纜和接口設(shè)置內(nèi)部。想象一下沒(méi)有電纜(包括沒(méi)有電源線)的產(chǎn)品對(duì)EMC要求也會(huì)大大降低。

在實(shí)踐中，我們經(jīng)常會(huì)發(fā)現(xiàn)，當(dāng)設(shè)備上的外拖電纜被取下時(shí)，我們可以通過(guò)測(cè)試。當(dāng)現(xiàn)場(chǎng)遇到電磁干擾時(shí)，只要拔下電纜，故障現(xiàn)象就會(huì)消失。這是因?yàn)殡娎|不僅是一種的接收和輻射天線，而且是干擾和騷擾進(jìn)出的通道。此外，電纜中的導(dǎo)線平行傳輸距離最長(zhǎng)，因此導(dǎo)線之間存在較大的寄生電容和寄生互感，導(dǎo)致導(dǎo)線之間的信號(hào)串?dāng)_。

從關(guān)于EMC從測(cè)試技術(shù)的描述可以看出，對(duì)測(cè)試技術(shù)的描述可以看出，EFT/B在測(cè)試和傳導(dǎo)抗擾性測(cè)試中，干擾總是以共模的方式注入產(chǎn)品的各種電纜端口；對(duì)于測(cè)試和傳導(dǎo)抗擾性測(cè)試，ESD測(cè)試和輻射抗擾性測(cè)試，當(dāng)測(cè)試進(jìn)行時(shí)，電纜始終以共模的形式接收電磁場(chǎng)干擾（當(dāng)然，不良模具的干擾不容忽視，如環(huán)路引起的干擾）；傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾測(cè)試的主要問(wèn)題和難點(diǎn)也在于共模問(wèn)題。共模問(wèn)題往往復(fù)雜，干擾傳輸路徑不明確，差模干擾問(wèn)題相對(duì)單一。

隨著電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)和多層板電路設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展，時(shí)鐘頻率通常是幾十個(gè)MHz或幾百M(fèi)Hz，甚至更高，所用信號(hào)脈沖的前后沿在亞洲ns范圍。信號(hào)接口傳輸數(shù)據(jù)的速率通常是幾十Mbit/s或幾百M(fèi)bit/s。比如優(yōu)質(zhì)視頻電路也是亞亞ns等級(jí)像素速率傳輸信號(hào)。振蕩速率（上升/下降時(shí)間）dV/dt）變得更快，電壓/電流。在這種情況下，可以忽略的寄生電容C會(huì)流過(guò)更大的寄生電流r＝CdY/dt，這些寄生電流大多是寄生的EMC問(wèn)題中的共模電流使共模問(wèn)題更加嚴(yán)重。

例如，雖然在電路設(shè)計(jì)中，為了不產(chǎn)生或引入意想不到的干擾，信號(hào)環(huán)路總是設(shè)計(jì)得最小，并做出一些必要的差模濾波，但容性耦合的噪聲干擾總是發(fā)生在輸入/輸出中（I/O）連接器與外殼或地平面之間的接人電纜，RF電壓會(huì)出現(xiàn)在電纜上，導(dǎo)致幾十個(gè)μA的RF電流足以超過(guò)允許的發(fā)射電平；或某些干擾（如干擾）EFT/B，ESD干擾)會(huì)引入電路，幾V瞬態(tài)電壓足以使電路工作異常。

可見(jiàn)電纜和接口是EMC干擾與測(cè)試設(shè)備的最早關(guān)系也是導(dǎo)致電磁兼容的最直接因素；共模問(wèn)題是共模問(wèn)題。EMC測(cè)試中最關(guān)心的問(wèn)題。